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    高壓開關(guān)回路電阻的測量方法及標(biāo)準(zhǔn)要求

    點(diǎn)擊次數(shù):229 更新時(shí)間:2024-11-13

    高壓開關(guān)回路電阻的測量方法及標(biāo)準(zhǔn)要求

    回路電阻的測量

    主回路

    為了把做過溫升試驗(yàn)(型式試驗(yàn))的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與所有進(jìn)行出廠試驗(yàn)的同一型號的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備進(jìn)行比較,應(yīng)該進(jìn)行主回路電阻的測量。

    應(yīng)用直流測量每個(gè)端子子間的電壓降或電阻。對于封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該作特殊考慮。

    試驗(yàn)電流應(yīng)該取100A至額定電流之間的任一電流值。

    注:經(jīng)驗(yàn)表明,僅憑主回路電阻增大不能認(rèn)為是觸頭或聯(lián)結(jié)不好的可靠證據(jù)。此時(shí),應(yīng)該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)。

    直流電壓降或電阻應(yīng)在溫升試驗(yàn)前在開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備所處的周圍空氣溫度下進(jìn)行一次測量;溫升試驗(yàn)后,當(dāng)開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備冷卻到周圍空氣溫度時(shí)再測量一次,兩次所測得的電阻值的差不應(yīng)大于20%。

    型式試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出直流電壓降或電阻的測量值,以及試驗(yàn)時(shí)的一般條件(電流、周圍空氣溫度、測量部位等)。

                                

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    輔助回路

    1級和2級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

    將1級和2級輔助觸點(diǎn)的每種類型的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路,然后加上開路電壓為6V(相對偏差為-15%)的直流電源,使其流過10mA的電流,按GBT5095.2-1997的試驗(yàn)2b測量其電阻。

    閉合的1級和2級輔助觸點(diǎn)的電阻不應(yīng)超過50。

    注:觸頭材料出現(xiàn)的氧化可能會(huì)降低有效的載流能力,因此可能導(dǎo)致接觸電阻的增加,甚至在非常低的電壓回路中不能導(dǎo)通,而在較高的電壓回路中又沒有出現(xiàn)問題。

    本試驗(yàn)的目的是為了檢驗(yàn)在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評估的判據(jù)考慮了電阻的非線性。50的數(shù)值源于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)并已被用戶接受。

    3級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

    將3級輔助觸點(diǎn)的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路,然后加上開路電壓≤30mV的直流電源,使其流過≤10mA 的電流,按正IEC61810-7測量其電阻。